X-Ray X射线检测仪无损检测

       我们通常认为X-Ray的接触属于无损检查（对X-Ray敏感的器件结构和材料除外），

常用于芯片失效分析中破坏性分析之前。

       原理:X-Ray有个特点是可以穿透低密度的材质（例如碳氢氧氮等轻元素构成的环氧

树脂等有机物），但是对于密度高于铝的金属材质，X-Ray则会部分被穿透部分被吸收。

通过特制的X-Ray探测影像装置可以形成被观测物的影像。基于这样的特性，可以用

X-Ray来观测和测量已封装好芯片内部的金、铜等高密度金属的连接情况或结构异常。