I-V曲线测试

工作原理:Smart-1 §动曲线追踪仪是直流电性失效(DC Fail)非常管用的测试工具。

仪器可以实现Pin to Pin,   Pinto All, Pin to Pins, Pins to Pins, Pins to All等各种测试方式。

常用测试功能包括：

（1）Open/Short Test；

（2）I/V曲线自动描绘和比对；

（3）Unpoweded Leakage & Powered Leakage   Test;

（4）ldd measuring；

无锡阿尔法检测提供以上各种代客测试服务，并且为客户准备了常用的芯片插座测试板，

更可为客户量身定制测试插座板。搭配无锡阿尔法检测实验室的探针台，还可以用于芯片

内部测试Pad之间的电性能测试；搭配无锡阿尔法检测实验室的EMMI测试仪器，还可

以用于芯片内部失效点的定位分析。