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FA失效分析测试项目

I-V曲线测试

发布时间:2022-01-07


工作原理:Smart-1 §动曲线追踪仪是直流电性失效(DC Fail)非常管用的测试工具。

仪器可以实现Pin to Pin,   Pinto All, Pin to Pins, Pins to Pins, Pins to All等各种测试方式。

常用测试功能包括:

1Open/Short Test

2I/V曲线自动描绘和比对;

3Unpoweded Leakage & Powered Leakage   Test;

4ldd measuring

无锡阿尔法检测提供以上各种代客测试服务,并且为客户准备了常用的芯片插座测试板,

更可为客户量身定制测试插座板。搭配无锡阿尔法检测实验室的探针台,还可以用于芯片

内部测试Pad之间的电性能测试;搭配无锡阿尔法检测实验室的EMMI测试仪器,还可

以用于芯片内部失效点的定位分析。

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