Latch up闩锁效应测试
发布时间：2022-01-07
测试原理:给芯片的电源引脚加上偏压之后，通过制造杂讯触发，并检测电流差异，从而判断是否有 Latch-Up产生。包含V-Test和l-Test。
测试方法和标准:机台可以满足JEDEC、AEC、JEITA测试标准，也可以对应客户自行定义的测试标准。
测试能力：
波形:10MHZ, *多到4,000点；
支持l-Test（Constant Current Latch-up test）和V-Test（Vsupply Over Voltage Test）
