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FA失效分析测试项目

Latch up闩锁效应测试

发布时间:2022-01-07


测试原理:给芯片的电源引脚加上偏压之后,通过制造杂讯触发,并检测电流差异,从而判断是否有 Latch-Up产生。包含V-Testl-Test

测试方法和标准:机台可以满足JEDECAECJEITA测试标准,也可以对应客户自行定义的测试标准。

测试能力:

波形:10MHZ, *多到4,000点;

支持l-TestConstant Current Latch-up test)和V-TestVsupply Over Voltage Test